Aquest treball vol oferir una visió general de la microscòpia electrònica de transmissió, partint d’un repàs històric des dels inicis de la tècnica els anys 30 del segle xx fins arribar als darrers avenços i la seva rellevància en el context de la recerca actual. Es posa l’èmfasi en intentar explicar els diferents mecanismes físics que permeten obtenir informació estructural i composicional de l’objecte observat a partir de la seva interacció amb un feix d’electrons accelerats.
This works aims at giving a general overview of transmission electron microscopy, from the beginnings of the technique in the 1930s to the latest technological advances and their relevance to current research. The focus is an attempt at explaining the different physical mechanisms that allow obtaining structural and compositional information from the observed object by studying its interaction with a beam of accelerated electrons.
© 2001-2024 Fundación Dialnet · Todos los derechos reservados