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First principles calculations of the electronic and dielectric properties of λ-Ta2O5

    1. [1] Instituto Tecnológico Metropolitano

      Instituto Tecnológico Metropolitano

      Colombia

    2. [2] Universidad de Antioquia

      Universidad de Antioquia

      Colombia

  • Localización: TecnoLógicas, ISSN-e 2256-5337, ISSN 0123-7799, Vol. 21, Nº. 43, 2018, págs. 43-52
  • Idioma: inglés
  • Títulos paralelos:
    • Cálculo de primeros principios de las propiedades electrónicas y dieléctricas de λ-Ta2O5
  • Enlaces
  • Resumen
    • español

      Ta2O5 es un semiconductor de gap-ancho el cual tiene interesantes aplicaciones encomunicaciones en la región de las micro-ondas, principalmente está relacionado con lafabricación de filtros y resonadores, donde su tamaño es inversamente proporcional a laconstante dieléctrica del material. Por este motivo, en este trabajo presentamos un estudioteórico a partir de la teoría de los funcionales de la densidad (usando PBEsol y el híbridoHSE06 para el funcional de intercambio-correlación) de las propiedades electrónicas ydieléctricas del modelo ortorrómbico -Ta2O5. Aquí, encontramos que este modelo tiene ungap directo de 2.09 y 3.7 eV con PBEsol y HSE06, respectivamente. Además, la constantedieléctrica estática calculada es 51, en buen acuerdo con los valores reportados para otrasfases de este semiconductor.

    • English

      Ta2O5 is a wide-bandgap semiconductor that offers interesting applications in microwavecommunications, mainly related to the manufacture of filters and resonators whosesize is inversely proportional to the dielectric constant of the material. For that reason, inthis work we present a theoretical study, based on density functional theory (using PBEsoland hybrid HSE06 exchange-correlation functionals), of the electronic and dielectricproperties of the orthorhombic model -Ta2O5. We found that this model has a direct gap of2.09 and 3.7 eV with PBEsol and HSE06, respectively. Furthermore, the calculated staticdielectric constant, 51, is in good agreement with the reported values of other phases of thissemiconductor.


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