Aplicación de la técnica de microscopía electrónica por emisión de campo con haz de iones focalizado en el estudio del patrimonio cultural: cerámica arqueológica y fotografía histórica

Antonio Doménech Carbó; María Teresa Doménech Carbó; Carolina Mai Cerovaz

Ayuda

Aplicación de la técnica de microscopía electrónica por emisión de campo con haz de iones focalizado en el estudio del patrimonio cultural: cerámica arqueológica y fotografía histórica

Domenech Carbo, Antonio ^[1] ; Domenech Carbo, María Teresa ^[2] ; Mai Cerovaz, Carolina ^[2]
1. [1] Universitat de València
  
  Universitat de València
  
  Valencia, España
2. [2] Universidad Politécnica de Valencia
  
  Universidad Politécnica de Valencia
  
  Valencia, España
Localización: Arché, ISSN-e 2445-1150, ISSN 1887-3960, Nº. 13-15, 2018-2020, págs. 149-156
Idioma: español
Títulos paralelos:
- Application of the Technique of Field Emission Scanning Electron Microscopy with Focused Ion Beam on the Study of Cultural Heritage: Archaeological Ceramics and Historical Photography
Enlaces
- Texto completo

Dialnet Métricas: 1 Cita

Resumen
- español
  Este trabajo nace a partir del interés por profundizar en el conocimiento y exploración de las capacidades de los distintos métodos de análisis de patrimonio cultural basados en técnicas nano invasivas (ng). La instrumentación de microscopía basada en la tecnología de haz de iones enfocado (FIB) ha ampliado notablemente el alcance de las aplicaciones industriales en el análisis de superficie de materiales en las últimas décadas. Sin embargo, esta técnica apenas se ha aplicado en el examen y análisis del patrimonio cultural. En este estudio se exponen los resultados obtenidos en la adaptación del sistema FIB con un microscopio electrónico de barrido de emisión de campo convencional microanálisis de rayos X (FESEM-EDX) como una metodología de análisis de superficie aplicada al estudio de cerámica vidriada y a los procesos fotográficos históricos.
- English
  This work is born from the interest to deepen knowledge and explore capabilities of the different methods of analysis on cultural heritage based on nanoinvasive techniques (ng). Microscopy instrumentation based on focused ion beam (FIB) technology has significantly expanded the scope of industrial applications for material surface analysis in recent decades. However, this technique has scarcely been applied in the examination and analysis of cultural heritage. This study sets out the results obtained in adapting the FIB system with a conventional X-ray micro-analysis (FESEMEDX) field emission scanning electron microscope as a surface analysis methodology applied to the glazed ceramic study and historical photographic processes.