Cuantificación y caracterización de imperfecciones reticulares en los minerales de la arcilla

• Autores: Antonio Sánchez Navas, J.D. Martín Ramos
• Localización: Boletín de la Sociedad Española de Mineralogía, ISSN 0210-6558, Vol. 14, Nº 0, 1991, págs. 7-14
• Idioma: español
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    El contenido de imperfecciones reticulares en los minerales de la arcilla puede obtenerse a partir del análisis de los perfiles de difracción de rayos X de polvo. En este caso se ha empleado para ello una modificación del llamado método de la varianza (Wilson, 1963). En la descripción de los defectos reticulares se ha utilizado una técnica altamente resolutiva como es la microscopía electrónica de transmisión en alta resolución (HRTEM). De este modo se ha estudiado cómo varía el contenido y la tipología de las imperfecciones reticulares en los filosilicatos, desde materiales sedimentarios con diverso grado de diagénesis a otros que han sufrido ya un metamorfismo de grado bajo.

  • English

    X-ray diffraction profiles yield information of the nature and extent of lattice imperfections. In this case a modification of the variance method (Wilson, 1963) has been used to determine lattice distortion of clay minerals. The high resolution transmission electron microscope (HRTEM) is well-suited for the description of reticular defects in minerals because it permits the imaging of non-periodic features. Using these complementarles methods; changes in quantity and typology of lattice imperfections has been studied in clay minerals from diagenesis to low grade metamorphism.