Caracterización estructural de talcos por DRX, IR y RAMAN mediante análisis de Fourier de los perfiles de banda

• Fernando Rull Pérez ; J. Medina ^[2] ; A.C. Prieto ^[2] ; J. M. Alia ^[1]
  1. [1] Universidad de Castilla-La Mancha

     Universidad de Castilla-La Mancha

     Ciudad Real, España

     
  2. [2] Área de Cristalografía y Mineralogía. Facultad de Ciencias. Valladolid.
• Localización: Boletín de la Sociedad Española de Mineralogía, ISSN 0210-6558, Vol. 14, Nº 1, 1991, págs. 46-46
• Idioma: español
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