Reconocimiento automático de defectos utilizando testeo con rayos X usando computer visión

• Autores: José Ramón Iglesias Gamarra, Omaira Luz Tapias Díaz
• Localización: XV Foro internacional sobre la evaluación de la calidad de la investigación y de la educación superior: (FECIES), 2018 / María Guillot Valdés (comp.), Alejandro Guillén Riquelme (comp.), 2018, ISBN 978-84-09-02098-0, págs. 836-841
• Idioma: español
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