Esquemas de corrimiento de fase: estudio comparativo

• Autores: Antonio Muñoz, Sotero Ordoñes, Jorge L. Flores, Omar Aguilar, Abimael Jiménez Pérez
• Localización: Acta Universitaria, ISSN-e 2007-9621, ISSN 0188-6266, Vol. 29, Nº. 1, 2019, págs. 1-9
• Idioma: español
• Títulos paralelos:
  • Phase shifting schemes: comparative analysis
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• Resumen
  • español

    La interferometría por corrimiento de fase es una técnica bien establecida para mediciones de fase, la cual requiere de una serie de patrones de franjas corridos en fase. En este trabajo, se analizan dos algoritmos de corrimiento de fase, los cuales se han usado para la recuperación de fase cuando se considera que los corrimientos de fase tienen error de calibración. El primer esquema analizado fue el algoritmo iterativo avanzado (AIA) y el segundo método es un esquema basado en el método de Levenberg-Marquardt (LM). Con el objetivo de mostrar su rendimiento, los evaluamos usando datos sintéticos y tomando en cuenta la exactitud,el orden de convergencia, así como el error por desentonamiento en los pasos. Los resultados muestran que ambos métodos reducen el error linealmente respecto al número de patrones de franjas; sin embargo, el esquema AIA tiene un desempeño significativamente mejor tanto en precisión como en tiempo de procesamiento. Este estudio arroja luz sobre las ventajas y desventajas de uso de las soluciones lineal y no lineal para la demodulación de patrones de franjas.

  • English

    Phase shifting is a well-established technique for phase measurements in interferometry and 3D profiling, which requires at least three sinusoidal intensity patterns with certain phase-shifts. In this paper, two phase-shifting schemes are analyzed, which have been used to minimize absolute phase errors due to the phase-shift error. The first one is the advance iterative algorithm (AIA) and the second is based on the Levenberg-Marquardt method (LM). In order to show their performance, these schemes are evaluated using synthetic data and taking into account the numerical accuracy, the order of convergence, and the detuning error. The results show that both methods reduce the phase error linearly; however, the AIA scheme significantly improves the accuracy and reduces the processing time. This work sheds light to the advantages and disadvantages of using the linear and non-linear solutions.