Electron probe microanalysis (EPMA) measurement of thin-film thickness in the nanometre range

• Autores: M. Radtke, M. Krumrey, M. Procop
• Localización: Analytical and bioanalytical chemistry, ISSN 1618-2642, Vol. 374, Nº 4, 2002, págs. 631-634
• Idioma: alemán
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