TOF-SIMS and XPS-investigations of ion implanted single crystal 1b-diamonds

• Autores: T. Fladung, V. Schlett, S. Dieckhoff
• Localización: Analytical and bioanalytical chemistry, ISSN 1618-2642, Vol. 374, Nº 4, 2002, págs. 614-618
• Idioma: alemán
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