Reconstrucción de reflectancias espectrales: Teorema del muestro frente a modelo lineal.
- Autores: A. García-Beltrán, Francisco Javier Romero Mora, Juan L. Nieves, Francisco de Asís Pérez-Ocón
- Localización: Óptica pura y aplicada, ISSN-e 2171-8814, Vol. 26, Nº. 2, 1993, págs. 521-532
- Idioma: español
- Títulos paralelos:
- Spectral reflectance recovering: Linear model vs. sampling theorem
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Resumen
Hemos realizado un estudio comparativo de la bondad en la reconstrucción de curvas de reflecctancia espectral según un modelo lineal de pocos parámetros (6-8) y por aplicación del teorema de Whittaker-Shannon, suponiéndoles anchos de banda a estas funciones de 0.01 y 0.02 ciclos/nm /7 y 13 parámetros necesarios), tal y como sugieren algunos autores Dicho estudio se ha llevado a cabo sobre un conjunto de 114 curvas de reflectancia espectral de muestras Munsell y 13 curvas de reflectancia de azulejos comerciales, todas medidas experimentalmente, así como 14 muestras utilizadas en el cálculo de índices de rendimiento del color; las muestras fueron clasificadas en grupos según su tono. Se observa que las muestras con una mayor contribución en largas longitudes de onda (rojas, amarillas y púrpuras) se dejan reconstruir mejor mediante el modelo lineal que a través del teorema del muestreo, ocurriendo lo contrario para aquellas con menor contribución en estas longitudes de onda (azules y verdes). Aún así, dado que el asignarle un ancho de banda a estas funciones de 0, 02 ciclos/nm nos fuerza a la utilización de 13 parámetros (un número bastante elevado) para apropiado.
