Materiales holográficos fotopolímeros y metrología speckle

• Autores: J. T. Sheridan
• Localización: Óptica pura y aplicada, ISSN-e 2171-8814, Vol. 40, Nº. 1 (MARZO), 2007 (Ejemplar dedicado a: VIII Reunión Nacional de óptica), págs. 1-5
• Idioma: español
• Títulos paralelos:
  • Holographic photopolymer materials and speckle based metrology
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    En este trabajo resumimos brevemente nuestra investigación reciente en el área de óptica aplicada (ingeniería fotónica) en el UCD/ORC. En particular se discuten resultados recientes aplicados al procesado óptico de información (OIP), ideas en el área de la metrología, y algunos de nuestros trabajos recientes en la caracterización de materiales fotopolímeros de registro holográfico. Concluimos el trabajo mediante una descripción de cómo combinamos estas dos líneas de investigación n el estudio de sistemas de almacenamiento holográfico de datos.

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    En este trabajo resumimos brevemente nuestra investigación reciente en el área de óptica aplicada (ingeniería fotónica) en el UCD/ORC. En particular se discuten resultados recientes aplicados al procesado óptico de información (OIP), ideas en el área de la metrología, y algunos de nuestros trabajos recientes en la caracterización de materiales fotopolímeros de registro holográfico.

    Concluimos el trabajo mediante una descripción de cómo combinamos estas dos líneas de investigación n el estudio de sistemas de almacenamiento holográfico de datos.