Comparative analysis of TiO₂ layers grown by pulsed laser deposition at atmospheric pressure and pyrolitic nebulization.

• M.R. Tejerina ^[1] ; M. Gamba ^[2] ; L. Ponce Cabrera ^[3] ; F.C. Alvira ^[4]
  1. [1] Centro de Tecnología de Recursos Minerales y Cerámica (CETMIC) (CIC-CONICET La Plata)
  2. [2] Instituto de Investigaciones Fisicoquímicas Teóricas y Aplicadas (INIFTA)
  3. [3] San Petersburg Electrotechnical University
  4. [4] Laboratorio de Instrumentación, Automatización y Control. Dpto. de Ciencia y Tecnología, Universidad Nacional de Quilmes; Laboratorio de Biomembranas, Dpto. de Ciencia y Tecnologia, Universidad Nacional de Quilmes

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• Localización: Óptica pura y aplicada, ISSN-e 2171-8814, Vol. 51, Nº. 4, 2018
• Idioma: español
• Títulos paralelos:
  • Estudio comparativo de capas de TiO₂ depositadas por PLD a presión atmosférica y nebulización pirolítica.
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• Resumen
  • español

    Las nanocapas cerámicas son ampliamente estudiadas por su interés en aplicaciones tecnológicas.

    Estos recubrimientos pueden conformar celdas solares, superficies de transmisión, emisión o reflexión selectiva de luz, entre otras tantas aplicaciones. En este trabajo se presenta una comparación entre películas delgadas de TiO₂ depositadas por ablación láser pulsado (PLD) y por nebulización pirolítica (sol-gel spray-pyrolisis, SP). La caracterización de las nanocapas se realizó empleando diversas técnicas como microscopía electrónica de barrido (SEM), espectrometría de dispersión de energía de Rayos X (EDS), microscopia de Fuerza Atómica (AFM), Difracción de Rayos X y espectroscopia Raman.

  • English

    TiO₂ layers and nanolayers are widely studied due to its technological applications. This material could be used in solar cells, transmission, emission or selective reflection, among other applications. In this paper, we show a characterization of layers of TiO₂ grown by two different methods, Pulsed Laser Deposition (PLD) at atmospheric pressure and spray pyrolysis (SP). The samples were characterized by SEM, EDS, AFM, XRD and Raman Spectrometry.