De todos los ambientes, el nuclear es el más agresivo, para personas e instalaciones, debido a la incidencia de las radiaciones nucleares sobre la salud y la funcionalidad en los materiales, componentes, dispositivos electrónicos, optoelectrónicos y mecatrónicos. Los modelos matemáticos de los manuales usados para resolver las tasas de fallo prediccionales, como el MIL-HDBK 217 F N2, Bellcore Telcordia, SN 29500, 217 Plus, etc., no incluyen factores de riesgo Px en ambientes nucleares para familias de componentes y dispositivos electrónicos, por lo que en este trabajo se desarrolla la metodología alternativa para resolver la fiabilidad.
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