Optically-Sectioned Micro PIV Measurements Using CLSM

• Autores: Jeffrey S. Allen, C.K. Choi, J.S. Park, K.D. Kihm
• Localización: Transactions of the ASME. Serie C: Journal of heat transfer, ISSN 0022-1481, Vol. 125, Nº 4, 2003, pág. 542
• Idioma: inglés
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