La fase social del artefacto: la filosofía de la tecnología de A. Feenberg como complemento para el análisis heideggeriano del útil

• Autores: Luciano Mascaró
• Localización: Thémata: Revista de filosofía, ISSN-e 2253-900X, ISSN 0212-8365, Nº 56, 2017, págs. 127-149
• Idioma: español
• Títulos paralelos:
  • The social phase of the artifact:: A. Feenberg's philosophy of technology as complement for the heideggerian analysis of tools
• Enlaces
  • Texto completo
• Resumen
  • español

    La filosofía del primer Heidegger sugiere una convergencia entre los fenómenos de la ciencia y la técnica basada en su común origen ontológico.

    Sin embargo, si estos fenómenos son estudiados atendiendo a la configuración concreta de los artefactos y usuarios, y a la influencia de factores sociales en las decisiones de diseño, podría observarse que ciencia y técnica representan dos movimientos divergentes. Con el fin de ofrecer un complemento a los estudios de Heidegger, analizaremos la filosofía de la técnica de A. Feenberg, quien se ocupa de resaltar la dimensión política de las herramientas y su imbricación social. El resultado será una fundamentación de la no convergencia de ciencia y técnica, y la formulación de un anexo teórico que busca dar concreción al análisis ontológico del artefacto.

  • English

    Heidegger’s early philosophy suggests a convergence between technics and science based in their coincident ontological origin. However, if these phenomena are studied taking into account the particular configuration of devices and users, and the influence of social factors in design decisions , it could be noted that science and technology represent two divergent movements. In order to provide a supplement to Heidegger studies, we discuss A. Feenberg’s philosophy of technology, which highlights the political dimension of tools and their social interweaving. The result will be a foundation of the non-convergence of science and technology, and the formulation of a theoretical annex, that seeks to concretize the ontological analysis of the artifact.