Comportamiento métrico de las patentes concedidas en Cuba: su contribución a la innovación tecnológica nacional

• Autores: Maidelyn Díaz Pérez, Raudel Giráldez Reyes, Humberto Andrés Carrillo-Calvet
• Localización: Investigación bibliotecológica, ISSN 0187-358X, ISSN-e 2448-8321, Vol. 31, Nº. Extra 0, 2017, págs. 271-289
• Idioma: español
• Títulos paralelos:
  • Metric behavior of patents granted in Cuba: its contribution to the national technological innovation
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• Resumen
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    Resumen Los estudios métricos de patentes desde finales del pasado XX son una valiosa herramienta de vigilancia científica tecnológica y de innovación, convirtiéndose en instrumento indispensable para conocer el comportamiento tecnológico internacional. Sin embargo, los estudios patentométricos no son aplicados óptimamente por todos los países, ni por todos los organismos internacionales, tampoco son aprovechadas todas las potencialidades que ofrecen estos estudios para conocer los diferentes contextos de las innovaciones tecnológicas de un país. Este artículo tiene como objetivo analizar el comportamiento métrico de las patentes concedidas en Cuba, aplicando una metodología propia que describe las principales innovaciones científico-tecnológicas patentadas por la Oficina Cubana de Propiedad Industrial. La metodología propuesta utiliza el software proIntec para la descarga, normalización, procesamiento, análisis y visualización de los datos procedentes de las patentes, y se aplica un amplio grupo de indicadores métricos relacionales y complejos, así como técnicas de redes sociales para visualizar los principales comportamientos de las innovaciones tecnológicas cubanas. Los resultados finales manifiestan las potencialidades de los estudios métricos de patentes, al poder representar los desarrollos tecnológicos del país y sus contribuciones al sistema de ciencia e innovación tecnológica nacional.

  • English

    Abstract Metric patent studies since the end of the last century are a valuable tool for scientific technological and innovation surveillance, becoming an indispensable instrument for knowing the international technological behavior. However, patentometric studies are not applied optimally by all countries or by all international organizations, nor are all the potential of these studies used to know the different contexts of a country’s technological innovations. This research aims to analyze the metric behavior of patents granted in Cuba applying an own methodology that describes the main technological scientific innovations patented by the Cuban Office of Industrial Property. The proposed methodology uses proIntec software for the download, normalization, processing, analysis and visualization of data from patents, and applies a large group of relational and complex metrics, as well as social networking techniques to visualize the main behaviors of Cuban technological innovations. The final results show the potential of metric patent studies to represent the country’s technological developments and its contributions to the national science and technological innovation system.