Maps of Intrinsic Cost (IC) in reliability problems of medium voltage power distribution systems through a Fuzzy multi-objective model

• Federico G. Camargo ^[1] ; Gustavo A. Schweickardt ^[1] ; Carlos A. Casanova ^[1]
  1. [1] CONICET, Facultad Regional Concepción del Uruguay, Universidad Tecnológica Nacional,Argentina
• Localización: DYNA: revista de la Facultad de Minas. Universidad Nacional de Colombia. Sede Medellín, ISSN 0012-7353, Vol. 85, Nº. 204, 2018, págs. 334-343
• Idioma: inglés
• Títulos paralelos:
  • Mapas de Costo Intrínseco (IC) en problemas de confiabilidad de sistemas de distribución de potencia en media tensión a través de un modelo difuso multiobjetivo
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• Resumen
  • español

    En este trabajo se analizó la fiabilidad de un Sistema de Distribución de Potencia de Media Tensión (SDMT) con la aplicación del Dispositivo de Seccionamiento/Protección (SP). La solución más satisfactoria se obtuvo a través de la metaheurística X-PSO con extensión al dominio difuso. La principal contribución fue la simplificación del índice denominado Costo Intrínseco (IC) y el análisis de los criterios de fiabilidad del coste del dispositivo y de la energía no suministrada. El IC permite obtener la valoración económica de cada uno de los criterios a optimizar y se basa en la cláusula 'Ceteris Paribus'. Se describen el problema, el modelo y el método de resolución utilizado. Se realizó un extenso análisis a través de gráficos bidimensionales (mapas) de la valoración económica de los criterios optimizados de sus respectivos Costos Intrínsecos. Finalmente, se analiza el caso real del problema de la optimización de la confiabilidad y losresultados obtenidos.

  • English

    In this work the reliability of a real Medium Voltage Power Distribution Systems (MVPDS) with the application of Sectionalizing/Protection (SP) Devices is analyzed. The most satisfactory solution is obtained through a metaheuristic X-PSO with extension to the fuzzy domain. The main contribution of this work is the simplification of the index called Intrinsic Cost (IC) and the analysis of the criteria of reliability of Device cost and Energy Not supplied. The IC enables to obtain the economic valuation of each one of the criteria to be optimized, and it is based on the clause 'Ceteris Paribus'. The problem, the model and the solving method used are described. An extensive analysis is performed through two-dimensional graphs (maps) of the economic valuation ofthe criteria optimized from their respective Intrinsic Costs. Finally, the real case study of the problem of the reliability optimization and the results obtained are analyzed.