Resumen de Diseño para testabilidad de estructuras bicuadráticas
Diego Vázquez García de la Vega, Adoración Rueda Rueda, José Luis Huertas Díaz
En este artículo se presenta una técnica DFT para el test off-line de filtros analógicos. Esta nueva estrategia consiste en alterar el funcionamiento del filtro cuando está fuera de su operación normal y generar una señal de error que contiene información acerca de los parámetros que gobiernan su comportamiento. Dicha señal de error puede ser fácilmente procesada on-chip por una circuitería adicional simple.
