Resumen de Generación de patrones de test mediante diferencias booleanas y coeficientes de Reed-Muller
Consolación Gil Montoya, Julio Ortega Lopera
Se presenta un nuevo procedimiento para la generación de patrones de test en faltas de anclaje basado en la resolución de las ecuaciones booleanas correspondientes a la condición de test para cada falta. Mediante el espectro de Reed-Muller (RM) se facilita la obtención de las ecuaciones de test para cada nodo a partir de tres funciones, f, g, y h, que permiten reconstruir la función del circuito. Además, puesto que se genera una descripción de las ecuaciones en términos de los coeficientes RM, es posible una rápida determinación de algunas de sus soluciones, es decir, un patrón de test.
