Programador automático de un sistema de análisis lógico para el test de prototipos digitales con estructura scan

• Autores: Miguel A. Manzano, José Manuel Solana Quirós
• Localización: VIII Congreso Diseño de Circuitos Integrados: Málaga, 9 al 11 de noviembre de 1993, 1993, págs. 509-510
• Idioma: español
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• Resumen

  • El trabajo que se presenta describe una herramienta software (HPTEST) para la programación automática de un Sistema de Análisis Lógico. Este programador se integra dentro de un Sistema de Ayuda al Test de prototipos desarrollado para circuitos digitales con estructura Scan. A partir de un conjunto de vectores de test, generados por un ATPG incluido asimismo en el paquete, y a partir de la estructura Scan del circuito y sus parámetros temporales de operación, la herramienta programa el Sistema de Análisis Lógico para la aplicación de las señales que permiten detectar la existencia de fallos en el prototipo, y para capturar las respuestas del mismo con el objeto de realizar la diagnosis posterior.