Filtro digital programable con autotest

• Autores: Santiago Fernández Gómez
• Localización: VIII Congreso Diseño de Circuitos Integrados: Málaga, 9 al 11 de noviembre de 1993, 1993, págs. 409-414
• Idioma: español
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• Resumen

  • Se aborda la experiencia del diseño de un circuito integrado con un sistema de autotest completo. La funcionalidad perseguida ha sido la de un filtro digital programable, FIR o IIR, con hasta un máximo de 10 coeficientes; para ello se ha implementado el algoritmo de Peled y Liu que evita los productos de la función del filtro, convirtiéndolos en sumas, pero añadiendo una memoria. El autotest implementado se basa en cadenas de scan; internamente se generan los vectores de test y se procesan los resultados de aplicar cada vector, para, al final, obtener una firma. La memoria del circuito se prueba empleando la lógica de BIST que genera el compilador de macrocélulas del entorno SOLO2030.