Síntesis de alto nivel con criterios de testabilidad

• Autores: Víctor Manuel Fernández Solórzano, Pablo Pedro Sánchez Espeso, Eugenio Villar Bonet
• Localización: VIII Congreso Diseño de Circuitos Integrados: Málaga, 9 al 11 de noviembre de 1993, 1993, págs. 320-325
• Idioma: español
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• Resumen

  • Las estrategias clásicas de diseño para testabilidad parten de niveles de abstracción RT o lógico. Por otro lado, las herramientas de síntesis de alto nivel no tienen en cuenta, entre sus objetivos, la testabilidad de la arquitectura resultante.

    En el presente trabajo se presenta una aproximación a un sistema de síntesis de alto nivel que, teniendo en cuenta un análisis de testabilidad funcional de la descripción algorítmica, obtiene un diseño con el mejor compromiso entre área, tiempo de ejecución y testabilidad. El sistema permite, por lo tanto, el diseño para testabilidad desde niveles de mayor abstracción que los actualmente utilizados.