Diagnosis de circuitos analógicos mediante signaturas basadas en variaciones de parámetros de alto nivel

• Autores: José Luis Bernier Villamor, Julio Ortega Lopera, Antonio Lloris Ruiz, Alberto Prieto Espinosa
• Localización: VIII Congreso Diseño de Circuitos Integrados: Málaga, 9 al 11 de noviembre de 1993, 1993, págs. 205-210
• Idioma: español
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• Resumen

  • Últimamente el tema del test de circuitos analógicos suscita gran interés debido a su importancia para el desarrollo de circuitos integrados analógicos con un número elevado de componentes. Aunque se han propuesto diversos métodos, ninguno tiene la generalidad suficiente como para poder aplicarse de manera efectiva a una gran variedad de circuitos. En esta comunicación se presenta una técnica basada en el uso de signaturas construidas a partir de las variaciones en los parámetros de alto nivel del circuito (polos, ceros, ganancia, etc.). Con ella se resuelven algunos de los problemas de que adolecen otros métodos y puede utilizarse eficazmente para comprobar una amplia gama de circuitos analógicos.