Lucky drift model for non-local impact ionisation incorporating a soft threshold energy

• Autores: J. S. Marsland
• Localización: IEE Proceedings: Optoelectronics, ISSN 1350-2433, Vol. 150, Nº 2, 2003, págs. 119-124
• Idioma: inglés
• Texto completo no disponible (Saber más ...)