Descubrimiento de conocimiento para diagnosis de fallos en producción de circuitos integrados

• Autores: Ángela Ribeiro Seijas, M. D. del Castillo, Luis Jenaro Barrios Bravo
• Localización: I Jornadas de informática. Actas: Puerto de la Cruz, 17-21 de julio de 1995 / José María Troya Linero (dir. congr.), Casiano Rodríguez León (dir. congr.), 1995, págs. 667-673
• Idioma: español
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• Resumen

  • El descubrimiento de conocimiento en bases de datos ha comenzado a tener un interés considerable en los últimos años. Este trabajo presenta el sistema de descubrimiento de patrones de defectos que está siendo desarrollado, en colaboración con AT&T Microelectrónica para mejorar el rendimiento del proceso de fabricación de circuitos integrados. Se presenta, en primer lugar, la problemática asociada al diagnóstico de los fallos que aparecen en la obleas. A continuación se muestra la arquitectura concebida para el sistema, que se desea posea una cierta generalidad, a fin de extender su uso a otros problemas.