Sistema de ayuda al test de circuitos digitales MOS basado en técnicas espectrales

• Autores: Gustavo A. Ruiz Robredo, Juan Antonio Michell Martín, Ángel María Burón Romero
• Localización: Diseño de circuitos integrados: actas del VI Congreso. Santander, 11/15 de noviembre de 1991, 1991, ISBN 84-87412-61-0, págs. 465-470
• Idioma: español
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• Resumen

  • En este trabajo se presenta un sistema de ayuda a la detección y diagnosis de fallos a nivel transistor en circuitos digitales MOS utilizando un método de compresión basado en firmas espectrales. Las tareas a realizar son la edición gráfica del circuito, generación de lista de fallos y eliminación de fallos equivalentes ("fault collapsing"), simulación de fallos, análisis espectral de la respuesta del circuito y la verificación de los circuitos bajo test a partir de los datos proporcionados por un Sistema de Análisis Lógico (LAS)