TESEO: algoritmo eficiente para la generación algebraica de patrones de test

• Autores: Pablo Pérez Trabado, Julio Ortega Lopera, Antonio Lloris Ruiz
• Localización: Diseño de circuitos integrados: actas del VI Congreso. Santander, 11/15 de noviembre de 1991, 1991, ISBN 84-87412-61-0, págs. 459-464
• Idioma: español
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• Resumen

  • En esta comunicación se representa un algoritmo de generación de patrones de test para faltas de anclaje ("stuck-at") en circuitos combinacionales, obtenidos por solución de ecuaciones booleanas. Se incluyen reglas detalladas para la construcción de las ecuaciones, y para el uso de los puntos de fan-out en la simplificación del procedimiento.