Estudio elipsométrico de películas semitransparentes de plata depositadas sobre vidrio

• Autores: Víctor Toranzos, Jorge O. Zerbino, Alberto Maltz, Guillermo Ortiz
• Localización: Avances en Ciencias e Ingeniería, ISSN-e 0718-8706, Vol. 5, Nº. 4, 2014, págs. 67-75
• Idioma: español
• Títulos paralelos:
  • Ellipsometric study of semitransparent silver layers deposited on glass
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• Resumen
  • español

    Utilizando elipsometría, se caracteriza la estructura de la película mediante los índices ópticos n, k (región visible, 450 nm < ï�¬ < 580 nm) y el espesor (15 < d < 35 nm). Los índices ópticos varían con la cantidad de plata depositada obteniéndose para los menores depósitos índices efectivos 1.0 < n < 1.8 y 1.6 < k < 2.6 que corresponden, de acuerdo a los modelos utilizados, a una fracción volumétrica entre 0.35 y 0.5 de plata en aire. Al aumentar la fracción volumétrica de plata se observa primeramente una disminución del espesor óptico efectivo de la película y para mayor cantidad de plata depositada se observa un aumento del espesor con índices que tienden a valores más próximos a los de la plata maciza. Se comparan los índices ópticos obtenidos con los que se obtienen mediante las teorías de medio efectivo.

  • English

    Using ellipsometry, the film structure is characterized by optical indices n, k (visible region, 450 nm < � < 580 nm) and the thickness (15 < d < 35 nm). The optical indices change with the quantity of silver deposited, obtaining effective indices of 1.0 < n < 1.8 and 1.6 < k < 2.6 to the smaller deposits that belong to a volumetric fraction between 0.35 and 0.5 of silver in the air. An effective optical thickness film decrease is observed when the silver volumetric fraction increases, and a thickness increase with close indices to solid silver when the deposited silver increases. Optical and effective medium theory indices are compared.