Influencia de las estructuras LFSR y CAR en la velocidad de operación de circuitos digitales: un análisis compartivo

• Autores: María de Mar Martínez Solórzano, Beatriz Rioja, Salvador Bracho del Pino
• Localización: Diseño de circuitos integrados: actas del VI Congreso. Santander, 11/15 de noviembre de 1991, 1991, ISBN 84-87412-61-0, págs. 33-38
• Idioma: español
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• Resumen

  • El diseño para Testabilidad, y en especial los métodos de autotest se han desarrollado extraordinariamente en los últimos diez años. En este trabajo presentamos un análisis comparativo del comportamiento de dos tipos de estructuras BILBO: LFSR y CAR. Asímismo, se realiza un estudio de la influencia de tales estructuras en la velocidad de operación de circuitos digitales.