Intervalos de confianza por bootstrap para niveles de eficiencia en modelos de frontera estocástica con datos de panel

• Autores: Yangseon Kim, Peter Schmidt
• Localización: La medición de la eficiencia y la productividad / coord. por Antonio Álvarez Pinilla, 2001, ISBN 84-368-1586-6, págs. 283-298
• Idioma: español
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