A review of DC extraction methods for MOSFET series resistance and mobility degradation model parameters

• Autores: Adelmo Ortiz-Conde, Andrea Sucre-González, Fabián Zarate Rincón, Reydezel Torres-Torres, R. Murphy-Arteaga, Juin J. Liou, F.J. García-Sánchez
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 69, 2017, págs. 1-16
• Idioma: inglés
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