Resumen de Dispositivo de alineación de muestras para el difractómetro de rayos X con control de posición e interfaz de manipulación
Daniel Santiago Jiménez Novoa, Johann Sebastián González Bustamante, William A. Aperador Chaparro
ResumenEn este artículo se detalla el diseño y fabricación de un prototipo mecánico que actúa como soporte de distintos tamaños de muestras para el análisis de difracción de rayos X, que controla la posición de la probeta, logrando una orientación precisa con respecto al haz de rayos X, esto beneficia al sector industrial en el desarrollo de nuevos proyectos con materiales al mejorar el desempeño de los mismos. El dispositivo requiere de la integración de distintos elementos mecánicos, electrónicos junto con conocimientos en el área programación para su correcto funcionamiento con el alto grado de precisiónnecesario para garantizar la posición de la muestra, a partir del diseño y la buena elección de los materiales en la fabricación. Se logró garantizar la precisión de la posición de la muestra a evaluar, por lo tanto, las partes mecánicas a utilizar en el prototipo deben ser de la mayor precisión que podamos obtener en este tipo de elementos según las medidas de la estructura.
