La importancia del análisis de capacidad de procesos deriva de la filosofía de adecuación a los requerimientos del cliente presentes en todo proyecto de calidad. Un proceso será satisfactorio siempre que sus productos respondan a los estándares fijados, ya sea por consideraciones técnicas como por exigencias del mercado. Durante los últimos 30 años se ha desarrollado y estudiado una gran variedad de índices que permiten comparar el comportamiento del proceso con las especificaciones impuestas, aunque casi todos los avances realizados asumen que no existen errores de medición en los datos recolectados, hecho que difícilmente es real en la práctica. Aún el uso de instrumentos de medición de última tecnología no garantiza la ausencia de imprecisiones. Si esto se ignora y el sistema de medición es inadecuado, los datos no reflejarán la realidad del proceso y las conclusiones del análisis podrían ser equivocadas. En este trabajo se realiza una breve reseña de los antecedentes existentes sobre el estudio de los efectos que los errores de medida pueden causar sobre las propiedades de los índices de capacidad de procesos y se realiza un aporte original analizando el efecto de errores sistemáticos sobre las propiedades del estimador del índice de capacidad Cpk.
The importance of process capability analysis stems from the customer satisfaction philosophy present in all quality projects. A process will be satisfactory provided that their products meet the requirements imposed by technical considerations as well as by market demands. Over the past 30 years a variety of indexes has been developed to compare the process performance with the specifications, although most of these advances assume that there are no measurement errors in the collected data, a fact that is hardly true in practice. Even the use of gauges of leading technology does not guarantee accurate and precise data. If this is ignored and the measurement system is inadequate, the data will not reflect the reality of the process, leading to wrong conclusions. This paper presents a brief review of previous researches in the study of the effects that measurement errors have on the properties of the process capability indexes and an original contribution is made by analyzing the effect of systematic errors on the properties of the estimator of the capability index Cpk.
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