Ayuda
¿En qué podemos ayudarle?
×
Buscar en la ayuda
Buscar
¿En qué podemos ayudarle?
×
Buscar en la ayuda
Buscar
Ir al conteni
d
o
B
uscar
R
evistas
T
esis
Co
n
gresos
m
étricas
Ayuda
Cambiar idioma
Idioma
català
Deutsch
English
español
euskara
français
galego
italiano
português
română
Cambiar
Banda de confianza para la tendencia del proceso lognormal con factores exógenos
Autores:
Francisco de Asís Torres Ruiz
,
Ramón Gutiérrez Jáimez
,
Pablo Román Román
Localización:
XXV Congreso Nacional de Estadística e Investigación Operativa
:
Vigo, 4-7 de abril de 2000
, 2000,
ISBN
84-8158-152-6,
págs.
367-368
Idioma:
español
Texto completo no disponible
(Saber más ...)
Acceso de usuarios registrados
Identificarse
¿Olvidó su contraseña?
¿Es nuevo?
Regístrese
Ventajas de registrarse
Dialnet Plus
Opciones de compartir
Facebook
Twitter
Opciones de entorno
Sugerencia / Errata
©
2001-2024
Fundación Dialnet
· Todos los derechos reservados
Dialnet Plus
Accesibilidad
Aviso Legal
Coordinado por:
I
nicio
B
uscar
R
evistas
T
esis
Co
n
gresos
m
étricas
Ayuda
R
e
gistrarse