Guest Editorial: 2015 EuroSimE International Conference on Thermal, Mechanical and Multi-Physics Simulation and Experiments in Micro-Electronics and Micro-Systems

• Autores: Artur Wymysłowski
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 62, 2016, págs. 1-3
• Idioma: inglés
• Texto completo no disponible (Saber más ...)