Síntesis y caracterización de soluciones sólidas de V-ZrSi04 preparadas a partir de geles coloidales

• Autores: C. Valentin, M. Sales, J. Alarcón
• Localización: Boletín de la Sociedad Española de Cerámica y Vidrio, ISSN 0366-3175, Vol. 37, Nº. 1, 1998, págs. 39-46
• Idioma: español
• Títulos paralelos:
  • V-ZrSi04 solids solutions prepared from coloidals gels. Synthesis and characterization
• Enlaces
  • Texto completo (pdf)
• Resumen
  • español

    Se han preparado soluciones sólidas con estructura zircon conteniendo vanadio mediante gelificación de mezclas de soles de óxidos de zirconio y vanadio y de TEOS (tetraetilortosilicato). La estructura de los geles determinada mediante espectroscopia infrarroja (IR) indicaba la formación de una red amorfa de sílice en la que están incluidas las partículas coloidales de óxido de zirconio y de vanadio. La reactividad del gel precursor hasta la formación de zircon se ha seguido mediante difracción de rayos X (DRX), espec-troscopia infrarroja (IR) y espectroscopia ultra violeta-visible (UV-Vis). Los resultados indicaban la formación de la solución sólida de V"^^ en Zr02 tetragonal previa a la formación de la fase zircon. El limite de solución sólida de vanadio en la estructura de zircon se determinó mediante la medida de los parámetros de celda unidad en función del contenido de vanadio en la estructura. La eva-luación de los contenidos de vanadio en las fases finales se ha realizado mediante EDX/MEB, alcanzando la solubilidad de vanadio en la estructura zircon hasta 0.01 moles por mol de zircon ( 0.5 % en peso de V2O5 por mol de zircon). La solución sólida de V-ZrSiO^ preparada presentaba estabilidad térmica al someterla durante tiempos prolongados a temperaturas de 1400 °C.

  • English

    Vanadium-containing solid solutions with zircon structure were prepared by gelling mixtures of zirconium and vanadium oxide sols and TEOS (tetraethoxysilane). The structure of gels determined by infrared spectroscopy (IR) shown the formation of a silicon amorphous network in which the colloidal particles of zirconium and vanadium oxide were included. The reactivity of the precur-sor gel leading to zircon formation was followed by X-ray diffraction (XRD), infrared spectroscopy (IR) and ultraviolet-visible spec-troscopy (UV-Vis). Previously to the zircon formation a solid solution of V"^^ in Zr02 ^^^ detected. The maximum compositional extent of the vanadium solid solution in zircon was determined by measuring the unit cell parameters against the vanadium con-tent in the structure. The vanadium content in V-doped ZrSi04 was determined by energy dispersive X-ray spectroscopy (EDX), rea-ching the vanadium solubiHty in the zircon about 0.01 mol % as vanadium (0.05 wt % as V2O5). The V-ZrSi04 soHd solution was thermally stable after long annealing treatment at 1400 °C