Más allá de las pruebas de vida acelerada: cómo ampliar el intervalo de calibración de instrumentos y otros componentes electrónicos

• Autores: Steven A. Jorgensen
• Localización: Revista española de electrónica, ISSN 0482-6396, Nº 730, 2015, págs. 100-101
• Idioma: español
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