Confiabilidad de dispositivo observable en un instante del tiempo: aplicación a componentes de transmisión de radares

• Autores: Juan Fernando Valencia, Juan Carlos Correa Morales
• Localización: Revista Ingeniería Industrial, ISSN-e 0717-9103, Vol. 14, Nº. 2, 2015, págs. 15-23
• Idioma: español
• Títulos paralelos:
  • Observable reliability of device in a moment of time: application to drive components radar
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• Resumen
  • español

    Determinar la confiabilidad de dispositivos es una de las principales tareas de la ingeniería. En algunas situaciones experimentales sólo es posible observar el tiempo completo de falla de una unidad. Sin embargo, para chequear si está o no trabajando basta con un punto del tiempo. Bajo algunos modelos paramétricos se pueden desarrollar análisis estadísticos de estas situaciones encontrando los estimadores de máxima verosimilitud, sus distribuciones asintóticas y los intervalos de confianza. El presente trabajo tiene como objetivo presentar una propuesta metodológica para el cálculo del intervalo de confianza de un dispositivo en presencia de doble censura. Se presenta la metodología paramétrica bajo la distribución exponencial, mostrando de manera detallada el cálculo del intervalo de confianza para el tiempo medio de falla. Posteriormente se presentan simulaciones para el cálculo del nivel real y longitud media del intervalo de confianza, se encuentra que los niveles alcanzados en el caso de doble censura son muy similares a cuando se observan los tiempos completos. Los resultados son aceptables y recomendados en situaciones en las que es costosa la observación de la muestra a lo largo del tiempo

  • English

    To determine the reliability of devices is one of the main tasks of engineering. In some experimental situations it is only possible to observe the full time of a drive failure. However, to check whether or not working just one point of time. Under some parametric models can develop statistical analyzes of these situations by finding the maximum likelihood estimators, their asymptotic distributions and confidence intervals. This paper aims to present a methodology for the calculation of the confidence interval of a device in the presence of double censorship. Parametric methodology under the exponential distribution is presented, showing in detail the calculation of the confidence interval for the mean time to failure. Later simulations to calculate the actual level and average length of the confidence interval are presented, it is that the levels reached in the case of double censorship are very similar to when full time was observed. The results are acceptable and recommended in situations where it is costly observing the sample over time