Ayuda
¿En qué podemos ayudarle?
×
Buscar en la ayuda
Buscar
¿En qué podemos ayudarle?
×
Buscar en la ayuda
Buscar
Ir al conteni
d
o
B
uscar
R
evistas
T
esis
Co
n
gresos
m
étricas
Ayuda
Cambiar idioma
Idioma
català
Deutsch
English
español
euskara
français
galego
italiano
português
română
Cambiar
Una aproximación a nuevos modelos de catalogación de planos y dibujos
:
Proceso y sistemática empleada en la Catedral de Sevilla
Autores:
Juan José Moyano Campos
,
David Marín García
,
Fernando Rico Delgado
,
Pedro José Barrero Ortega
,
María Dolores Rincón Millán
Localización:
Investigación gráfica, expresión arquitectónica
/
coord.
por
Francisco Hidalgo Delgado
,
María Concepción López Gonzalez
, 2012,
ISBN
978-84-8363-964-1,
págs.
314-320
Idioma:
español
Enlaces
Texto Completo Libro
Acceso de usuarios registrados
Identificarse
¿Olvidó su contraseña?
¿Es nuevo?
Regístrese
Ventajas de registrarse
Dialnet Plus
Opciones de compartir
Facebook
Twitter
Opciones de entorno
Sugerencia / Errata
©
2001-2024
Fundación Dialnet
· Todos los derechos reservados
Dialnet Plus
Accesibilidad
Aviso Legal
Coordinado por:
I
nicio
B
uscar
R
evistas
T
esis
Co
n
gresos
m
étricas
Ayuda
R
e
gistrarse