Parametric yield modeling using hidden variable logistic regression

• Jung Yoon Hwang ^[2] ; Hyun Cheol Lee ^[1]
  1. [1] Korea Aerospace University

     Korea Aerospace University

     Corea del Sur

     
  2. [2] Samsung Electronics
• Localización: Quality control and applied statistics, ISSN 0033-5207, Vol. 60, Nº. 4, 2015, págs. 377-380
• Idioma: inglés
• Texto completo no disponible (Saber más ...)