Propiedades psicométricas de la adaptación al castellano del Teique-SF: Fiabilidad y validez convergente

• Autores: A. Montoro, Pei-Chun Shih, Eduardo Estrada Alonso
• Localización: Líneas actuales en la investigación de la personalidad y la inteligencia: libro de actas / coord. por Asociación Iberoamericana para la Investigación de las Diferencias Individuales. (AIIDI), 2011, ISBN 978-84-8021-825-2, págs. 79-82
• Idioma: español
• Títulos paralelos:
  • Psychometric properties of the Teique-Short Form (Spanish version): reliability and convergent validity
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