Potential Biases in Bug Localization: Do They Matter?

• Autores: Pavneet Singh Kochhar, Yuan Tian, David Lo
• Localización: ASE´14. Proceedings of the 29th ACM/IEEE international conference on Automated software engineering / coord. por Ivica Crnkovic, 2014, ISBN 978-1-4503-3013-, págs. 803-814
• Idioma: inglés
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