Next-generation model-based variability management: languages and tools

• Autores: Mathieu Acher, Patrick Heymans, Raphäel Michel
• Localización: 16th International Software Product Line Conference, SPLC´12 / coord. por Eduardo Santana de Almeida, Christa Schwanninger, David Benavides, Vol. 2, 2012, ISBN 9781450310956, págs. 276-277
• Idioma: inglés
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