La técnica de fotorreflectancia para analizar propiedades ópticas y mecánicas de muestras semiconductoras.

• Autores: Francy Nelly Jiménez García, Carlos Vargas Hernández, Jesús Fabian Jurado
• Localización: Scientia et Technica, ISSN 0122-1701, Vol. 2, Nº. 39, 2008, págs. 353-358
• Idioma: español
• Títulos paralelos:
  • Photoreflectance technique to analyze optical and mechanical properties of semiconductor samples
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• Resumen
  • español

    Se presenta una revisión de la técnica de Fotorreflectancia (FR) desde su fundamentación teórica hasta algunas de sus aplicaciones. La fotorreflectancia es una técnica de modulación no destructiva que no requiere preparación previa de la muestra, es empleada ampliamente para el estudio de la estructura electrónica de semiconductores, con ella se pueden determinar las energías de los puntos críticos las cuales brindan información, entre otras de los esfuerzos presentes en las muestras.

  • English

    It is presented a biographic revision of the photoreflectance technique (PR) since its theoretical foundation to some applications. The PR is a non destructive modulation technique and does not require previous sample preparation. It has been employed to study semiconductor electronic structure and to determine the critical points energy which gives information of strain in the sample, among other.