Optical Measurement of Thermal Contact Conductance Between Wafer-Like Thin Solid Samples

• Autores: G. Wu, Y. Ohsone
• Localización: Transactions of the ASME. Serie C: Journal of heat transfer, ISSN 0022-1481, Vol. 121, Nº 4, 1999, págs. 954-963
• Idioma: inglés
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