Espectroscopía fotoeléctrónica de Rayos-X

• Autores: Sonia Regina Homem de Mello Castanho
• Localización: Boletín de la Sociedad Española de Cerámica y Vidrio, ISSN 0366-3175, Vol. 36, Nº. 4, 1997, págs. 425-434
• Idioma: español
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• Resumen

  • Se hace una breve descripción del fundamento de las técnicas de espectroscopia electrónica y su aplicación en el estudio de superficies. Entre ellas, el trabajo se centra en la técnica de espectroscopia fotoelectrónica de rayos-X (XPS), explicándose brevemente el fundamento de la técnica y la interpretación de los espectros que se obtienen. Finalmente, se discuten algunas de sus posibles aplicaciones en el análisis de materiales cerámicos y vidrios.