Determinación de tensiones residuales superficiales y en capas por difracción de Rayos X

• Autores: H.P. Steier
• Localización: Boletín de la Sociedad Española de Cerámica y Vidrio, ISSN 0366-3175, Vol. 36, Nº. 1, 1997, págs. 47-54
• Idioma: español
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• Resumen

  • En el presente trabajo se lleva a cabo una revisión general de la técnica de medida de tensiones residuales superficiales y en capas por difracción de rayos X. La primera parte trata de revisar los fundamentos necesarios. Se explican la dirección de medida y la profundidad de información en la difracción de rayos X para poder entender cuales son los espaciados que medimos. También se revisan las relaciones elásticas tensión-deformación para comprender como se relacionan estos espaciados al estado de tensiones presente en el material. La segunda parte suministra los detalles técnicos y los cálculos necesarios para medir bien la suma de tensiones en una superficie o bien la tensión en una dirección dada de la superficie. Finalmente se describen modificaciones para los casos especiales de capas finas y materiales texturados y se discuten algunas posibles fuentes de errores.