Ayuda
¿En qué podemos ayudarle?
×
Buscar en la ayuda
Buscar
¿En qué podemos ayudarle?
×
Buscar en la ayuda
Buscar
Ir al conteni
d
o
B
uscar
R
evistas
T
esis
Co
n
gresos
m
étricas
Ayuda
Cambiar idioma
Idioma
català
Deutsch
English
español
euskara
français
galego
italiano
português
română
Cambiar
How to Count Patents and Value Intellectual Property: The Uses of Patent Renewal and Application Data
Autores:
Jonathan Putnam, Jean O. Lanjouw, Ariel Pakes
Localización:
Journal of industrial economics
,
ISSN
0022-1821,
Vol. 46, Nº 4, 1998
,
págs.
405-432
Idioma:
inglés
Texto completo no disponible
(Saber más ...)
Dialnet Métricas
:
4
Citas
Acceso de usuarios registrados
Identificarse
¿Olvidó su contraseña?
¿Es nuevo?
Regístrese
Ventajas de registrarse
Dialnet Plus
Opciones de compartir
Opciones de entorno
Sugerencia / Errata
©
2001-2026
Fundación Dialnet
· Todos los derechos reservados
Dialnet Plus
Accesibilidad
Aviso Legal
Coordinado por:
I
nicio
B
uscar
R
evistas
T
esis
Co
n
gresos
m
étricas
Ayuda
R
e
gistrarse