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How to Count Patents and Value Intellectual Property: The Uses of Patent Renewal and Application Data
Autores:
Jonathan Putnam, Jean O. Lanjouw, Ariel Pakes
Localización:
Journal of industrial economics
,
ISSN
0022-1821,
Vol. 46, Nº 4, 1998
,
págs.
405-432
Idioma:
inglés
Texto completo no disponible
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