Modelos de fallos y errores a nivel funcional: hacia su conexión con los modelos a nivel de transistor

• Autores: Ángel María Burón Romero, Juan Antonio Michell Martín
• Localización: Revista de informática y automática, ISSN 0210-8712, Año 22, Nº. 1, 1989, págs. 28-36
• Idioma: español
• Títulos paralelos:
  • Fault and error models at the functional level: towards their connection with the transistor level models
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• Resumen
  • español

    En este trabajo se analizan los diversos modelados de fallos y errores que han sido propuestos en los distintos niveles de abstracción, indicando sus principales ventajas e inconvenientes, y se presenta una revisión de las aportaciones más destacadas en las áreas de tratamiento de fallos y errores a nivel funcional, apuntando algunas de las posibles líneas de avance que pueden llevar a conseguir resultados significativos en la misma.

  • English

    In this work, an analysis is made of the various fault and error models which have been proposed at the different levels of abstraction, enhancing their main advantages and weakness, a revision is also made of the most relevant work done up to now and dealing with fault and error treatment at the functional level, ending by pointing at some research directions that could lead to significant results in those areas.