Modelo ineal extendido para sistemas muestrados no uniformemente

• Autores: Amparo Fúster Sabater
• Localización: Revista de informática y automática, ISSN 0210-8712, Año 21, Nº. 4, 1988, págs. 24-29
• Idioma: español
• Títulos paralelos:
  • Extended lineal model for linealr systems sampled nonperiodically
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• Resumen
  • español

    En el presente trabajo se desarrolla un modelo lineal extendido (M.L.E.) para sistemas lineales muestreados no uniformemente. El procedimiento considerado evita los inconvenientes inherentes a la no linealidad, al mismo tiempo que, enfatiza la importancia de la secuencia de muestreo incluida entre las variables a manipular. También propone un método específico para la reducción del número de parámetros. Esta descripción entrada-salida puede considerarse como una formulación básica para su posterior aplicación al problema del control y/o identificación de sistemas lineales.

  • English

    An extended linear model for linear systems sampled nonperiodically has been developed. The drawbacks inherent to the nonlinearity are avoided and the sampling sequence is considered as an additional element to be handled. A specific method of reduction of the number of parameters is proposed. This input/output description is believed to be a basic formulation for its later application to the problem of optimal control and /or identification of linear dynamical system.